WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡

產品型號：WEK35391-2017
更新時間：2026-03-18

簡要描述：WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡每個線對組由4塊規格尺寸相同的薄片平行排列構成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開），兩側放置最厚薄片的2倍厚度的校準塊，每組線對卡里面的金屬片組間隔為2.5mm

WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡每個線對組由4塊規格尺寸相同的薄片平行排列構成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開），兩側放置最厚薄片的2倍厚度的校準塊，每組線對卡里面的金屬片組間隔為2.5mm。

WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡符合《GB/T 35391-2017無損檢測工業計算機層析成像(CT)檢測用空間分辨力測試卡》要求

線對卡,按分辨力高低分為三種:

1)Ⅲ級線對卡

2)Ⅱ級線對卡

3)工級線對卡;

線對卡是用來測試工業CT系統空間分辨力的一種標準試件,它是由鋼、硅或其他由供需雙方商定的材料制作的薄片構成的線對組,每個線對組由4塊規格尺寸相同的薄片平行排列構成(薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開),兩側放置最厚薄片的2倍厚度的校準塊,其三維結構如圖1、正視圖如圖2所示。

WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡實物拍攝圖：

WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡實物圖

WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡參數規格：

每個線對組中的薄片厚度為T，相鄰片間隙寬度(金屬隔片厚度)也為 T。各種等級線對卡的薄片厚度 T 及其對應的線對數見表 A.1。

等級	第1組		第2組		第3組		第4組		第5組
	片厚T mm	線對數 Lp/mm	片厚T mm	線對數 Lp/mm	片厚T mm	線對數 Lp/mm	片厚T mm	線對數 Lp/mm	片厚T mm	線對數 Lp/mm
Ⅲ級	0.100	5.0	0.125	4.0	0.150	3.3	0.200	2.5	0.250	2.0
Ⅱ級	0.150	3.3	0.200	2.5	0.250	2.0	0.300	1.7	0.500	1.0
Ⅰ級	0.250	2.0	0.300	1.7	0.500	1.0	0.650	0.8	1.000	0.5

每個線對組中的薄片長度L 為10mm，寬度W為8mm。

外型尺寸長(L)，寬(W)，高(H)，單位：mm。

圖片
等級	Ⅰ級	Ⅱ級	Ⅲ級
線對	0.5至2.0LP/m	1.0至3.3LP/m	2.0至5.0LP/m
尺寸（mm）	45Lx26Wx20H	33Lx26Wx20H	30Lx26Wx20H

圓孔卡或細絲卡,按孔徑或絲徑大小分為兩種:

1)Ⅱ級圓孔卡或Ⅱ級細絲卡

2)工級圓孔卡或I級細絲卡;

WEK35391-2017圓盤卡

圓孔卡是在均質圓柱形基體上,加工一系列直徑不同的圓形孔,圓孔按行有序排列,其結構如圖3所示。細絲卡是在均勻低密度圓柱形基體上,排列一系列直徑不同的細絲,細絲按行有序排列。
圓盤卡是由均質的剛性材料制作的圓柱體,其結構如下圖所示。圓盤卡材質應與被檢測物體的射線吸收特性相同或相近,推薦使用鋼或硅(或由供需雙方商定的材料制作)。
WEK35391-2017空間分辨力測試卡

GBT35386-2017空氣間隙試塊

空氣間隙試塊是在均質剛性基體材料[一般為鋼(例如 Q235)、鋁(如 3003)、聚丙烯]中人工制造一定直徑和高度的空氣間隙，使得切片厚度內的局部平均密度發生變化，從而測試密度分辨力。其基本結構如圖 A.5所示。

基體是由兩個高密度圓柱體組成，高度在15mm以上。凹槽直徑φ不小于20mm圓柱體直徑可根據實際情況規定，一般不小于 3φ，凹槽深度 h根據切片厚度 .和實際情況確定。

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